產(chǎn)品介紹

     貝拓科學(xué)專業(yè)研發(fā)設(shè)計(jì)生產(chǎn)的BRAGG臺(tái)式X射線衍射儀采用X射線衍射技術(shù)，能夠快速、精確地進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析、相態(tài)識(shí)別和定量分析。BRAGG具有高分辨率和靈敏度，可以應(yīng)對多種樣品類型，包括粉末、液體、固體等。它還配備了用戶友好的軟件界面，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。這款儀器適用于多個(gè)領(lǐng)域，包括材料科學(xué)、地球科學(xué)、化學(xué)等，為研究人員和工程師提供了強(qiáng)大的分析工具。

    儀器特點(diǎn)：

    ●光子計(jì)數(shù)X射線探測器

    面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測器

    高靈敏，可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù)

    動(dòng)態(tài)范圍大

    雙閾值

    抗強(qiáng)輻射長時(shí)照射，長壽命

    ●固定測角儀系統(tǒng)

    同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像

    2D成像，同時(shí)收集γ角度信息

    ●大角度弧形探測器

    同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像

    2D成像，同時(shí)收集γ角度信息

    探測器至樣品距離:150mm

    多片探測器全角度無縫覆蓋

    ●支持多種數(shù)據(jù)采集模式

    固定照相模式獲取2D衍射幀

    快掃模式獲取1D衍射譜

    功能應(yīng)用：

    ●物相鑒定

    ●定量分析

    ●結(jié)晶度

    ●晶胞參數(shù)

    ●晶粒尺寸

    ●晶體結(jié)構(gòu)

    ●Rietveld精修

    ●相變

    技術(shù)參數(shù)：